CAUSAS SUBYACENTES DE LA ESCALADA DE LAS TENSIONES SINO-ESTADOUNIDENSES

Autores/as

  • Seiji Seron Miyakawa UNICAMP
  • Mariana Ribeiro Jansen Ferreira PUC-SP

DOI:

https://doi.org/10.21680/1982-5560.2023v24n2ID35300

Palabras clave:

República Popular de China, Estados Unidos de América, guerra comercial, imperialismo

Resumen

Este artículo pretende destacar algunas de las causas de las crecientes tensiones entre Estados Unidos y China en los últimos años. La restauración del capitalismo en China fue esencial para superar la crisis capitalista internacional de los años 1970, posible gracias a la transferencia de gran parte de la actividad manufacturera ubicada, hasta entonces, en los países centrales a Asia. Hasta 2008, el crecimiento económico mundial estuvo impulsado por las exportaciones manufactureras asiáticas –principalmente chinas– a Estados Unidos, y por el mantenimiento de los déficits comerciales estadounidenses mediante la adquisición de bonos del Tesoro de este país por parte de economías con superávit comercial. La fuerte retracción del comercio mundial que siguió al estallido de la burbuja inmobiliaria estadounidense aceleró la transición de China hacia un nuevo patrón de acumulación, cuyo dinamismo proviene más del consumo familiar y de la innovación autóctona que de las exportaciones e inversiones, además de provocar una drástica expansión de Exportaciones de capital chino. Este aumento de la internacionalización del capital, y también de las capacidades tecnológicas de China, contrasta con la baja productividad de la economía china y otras vulnerabilidades que aún sufre el país en el ámbito financiero, militar e incluso cultural e ideológico. Por lo tanto, China todavía no es capaz de desafiar la hegemonía estadounidense, aunque ya está a la par de Estados Unidos y otras potencias mundiales en varios aspectos parciales.

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Publicado

09-04-2024

Cómo citar

SERON MIYAKAWA, S.; RIBEIRO JANSEN FERREIRA, M. CAUSAS SUBYACENTES DE LA ESCALADA DE LAS TENSIONES SINO-ESTADOUNIDENSES. Revista Cronos, [S. l.], v. 24, n. 2, p. 63–83, 2024. DOI: 10.21680/1982-5560.2023v24n2ID35300. Disponível em: https://periodicos.ufrn.br/cronos/article/view/35300. Acesso em: 19 dic. 2024.